LS225+N2000 Alat Ukur Deteksi Ketebalan Pelapisan

Description

LS225+N2000 Alat Ukur Deteksi Ketebalan Pelapisan adalah instrumen profesional yang dirancang untuk mengukur ketebalan lapisan pada permukaan datar berukuran besar dengan probe N2000. Instrumen ini menggunakan prinsip induksi arus eddy (eddy current), dan desain probe berbobot khusus untuk memastikan tekanan yang konsisten selama pengukuran, sehingga hasilnya lebih stabil.

Plating Thickness Tester LS225+N2000 ini ideal untuk mengukur lapisan cat pada PCB board, serta berbagai lapisan non-konduktif seperti cat, lapisan anodik (anodic oxide layer), keramik, dan lainnya pada substrat logam non-magnetik seperti aluminium, tembaga, kuningan, hingga zinc die-cast.

Aplikasi

Alat Penguji Tebal Lapisan LS225 + N2000 dapat digunakan untuk pengukuran non-destruktif ketebalan lapisan non-konduktif pada substrat logam non-magnetik. Beberapa aplikasi utamanya:

• Industri elektronik: mengukur lapisan cat pelindung pada permukaan PCB board.
• Industri aluminium: mengukur ketebalan lapisan anodisasi.
• Industri kimia, mesin, penerbangan, dan material bangunan: inspeksi kualitas lapisan pelindung.

Juga dapat digunakan untuk inspeksi produksi, penerimaan konstruksi, dan lokasi pameran penjualan.

Fitur S225+N2000 Alat Ukur Deteksi Ketebalan Pelapisan:

1. Pengukuran lapisan ultra-tipis

Dengan teknologi digital osilasi dan akuisisi ADC berkecepatan tinggi, alat ini mampu mengukur lapisan setipis <10 μm secara akurat.

2. Probe dengan desain pemicu berbobot sendiri

Probe menggunakan bobotnya sendiri sebagai pemicu, memastikan gaya tekan konsisten setiap kali pengukuran.

3. Mengadopsi Teknologi probe digital

Sirkuit pemrosesan digital terintegrasi di dalam probe, mengurangi gangguan sinyal analog dan meningkatkan akurasi data uji.

4. Kalibrasi multi-titik, data lebih akurat

Mendukung zeroing dan kalibrasi hingga 5 titik, dilengkapi dengan papan zeroing dan standar plat untuk hasil yang lebih presisi.

5. Fungsi statistik data

Dengan fungsi statistik data, secara otomatis menghitung nilai maksimum, minimum, rata-rata, dan nilai varians dari 9 kelompok data terakhir yang diuji.

Spesifikasi S225+N2000 Alat Ukur Deteksi Ketebalan Pelapisan:

1. Unit Utama (Host):

• Layar: LCD dot matrix 240×160
• Sumber daya: 4× baterai AAA 1,5V
• Rentang suhu pengoperasian: 0℃ – 50℃
• Rentang suhu penyimpanan: -20℃ – 60℃
• Dimensi: 148×76×26 mm
• Berat (termasuk baterai): 194 g

2. Probe N2000:

🔹 Parameter: Nilai

• Prinsip pengukuran: Eddy Current
• Substrat: Logam non-ferromagnetik
• Rentang pengukuran: 0.0 – 2000 μm
• Resolusi:

🔹 0.1 μm: 0μm – 99.9 μm

🔹 1μm: 100μm – 999 μm

🔹 0.01 mm: 1.00 – 2.00 mm

• Repeatability: ≤ ±(1%H + 0.2 μm), H adalah nilai standar
• Akurasi: ≤ ±(2%H + 0.3 μm) setelah kalibrasi 5 titik, H adalah nilai standar
• Satuan: μm / mil
• Interval pengukuran: 0.8 detik
• Ketebalan minimum substrat: 0.03 mm
• Kalibrasi: Mendukung penyesuaian referensi nol dan kalibrasi 1 hingga 5 titik
• Ukuran probe: 95.5 × 30 mm (Tanpa kabel penghubung)
• Berat probe: 304 g

Bergerak pada bidang distributor, kami Dropshiper akan berusaha semaksimal mungkin menyediakan alat ukur solusi Kebutuhan dengan product baik digital ataupun analog.

Untuk informasi LS225+N2000 Alat Ukur Deteksi Ketebalan Pelapisan sejenisnya bisa anda lihat pada Kategori Alat Ukur Lapisan, kebutuhan Harga maupun Formalitas penawaran serta Stock, Silakan langsung saja hubungi KONTAK yang tersedia, baik telepon, whatsapp atau email.